Effect of an electric field within microscopy focused ion beam (FIB) between manipulator sharp and the ion trap of the electron detector
Gómez Jorge A.1, Pérez Hernández2 and A. Duarte-Moller, A.2*
1Instituto Potosino de Investigación Científica y Tecnológica, Camino a la Presa San José 2055. Col. Lomas 4 sección CP. 78216, México.
2Centro de Investigación en Materiales Avanzados Chihuahua, Miguel de Cervantes Saavedra No. 120, Complejo Industrial Chihuahua, Chihuahua, Chih., México
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